1．系统描述

TFT点灯AOI系统系统适用于对TFT型LCD的CELL、COG等阶段进行灰尘、坏点、一致性等缺陷检测，采用本系统来进行TFT点灯后的检测可实现对亚像素坏点的精确检测。设备还可以扩展对翻盖小屏进行检测的功能。同时，视觉设备统一的检测标准消除了人工检测的主观性，具有非常高的可靠性和可重复性，有利于工厂的质量控制，降低生产成本，提高产品出厂的合格率。

系统硬件部分由高分辨率CCD相机、TFT点灯测试仪、图像采集卡、PC机、结果输出单元等几部分组成。可以根据需要，将检测平台与可移动PC机柜连接在一起，使检测系统外形更加实用、美观。系统硬件结构部分如下图：

2．系统功能及性能指标

▄ 检测内容

可检测TFT屏生产工艺中所带来的各种微观及宏观缺陷：

微观缺陷：暗点，亮点，暗线，亮线；

宏观缺陷：MURA；

▄ 检测对象

类型：TFT型LCD的CELL，COG，Module等阶段产品；

尺寸：10寸以下小尺寸产品；

10寸到22寸中尺寸产品；

22寸以上大尺寸产品；

* 根据检测尺寸大小对应不同的系统机台及检测器件配置

一次检测数量：根据产品，可同时检测单片，多片（根据待检产品尺寸定）；

▄ 检测精度

可精确检测TFT亚像素缺陷（subpixel，典型值0.08mm）；

▄ 检测速度

由TFT翻屏、稳定时间决定，单屏检测时间小于100ms（典型值：单片玻璃检5分屏为5s）；

▄ 结果输出

声光报警及软件界面显示； 

系统预留IO接口（可连接外部统计、分流等自动化系统）； 

3．系统应用

本设备可以适用于手机生产厂对手机的双屏、内置摄像头检测过程中，也可以用于LCM生产厂对LCM进行出厂前的质量检查。能检测出LCM的黑白坏点、错行错列、屏幕亮度对比度的一致性等系列缺陷，当出现不合格品时，可以发出声光报警，并在软件界面上能显示产品合格与否的最终结果。具有检测精度高，不疲劳、检测性能稳定的特点，在LCD/LCM 行业中得到了广泛的应用。

典型缺陷图像：

亚像素暗点                   亮点          MURA

系统检测界面：