1．系统描述

TNSTN屏终检AOI系统是基于机器视觉技术的非接触质量检测设备。该设备可以检测TN/STN型LCD/LCM 可能出现的各种缺划、多划和暗划及针孔等细小缺陷，检测完后将检测结果实时显示，或根据用户需求可提供I/O 控制输出或声光报警等。相比目前的人工电测方法，采用机器视觉技术进行质量检测降低了人工检测带来的不可控因素，统一了检测标准，提高了检测速度，最终提高LCD/LCM 产品质量和工艺水平。由于该系统的高效率、高稳定性，现在此系统已经在国内多个大型LCD厂家得到了成熟应用。

2. 系统结构

TNSTN屏终检AOI系统由工业相机、图像采集卡、背景光源、检测平台、LCM/LCD显示驱动平台、工控机、声光报警器等几部分组成，检测设备外形实用。产品外观如下：

3．性能指标

l 缺陷检测精度：0.1mm×0.1mm（典型值）；

l 检测速度能达到小于0.5s/屏，综合检测速度可达到每小时600PCS以上（典型值）；

l 设备一般漏检率：≤10ppm（典型值，根据设备配置及LCD显示特性而定）；

l 设备误检率：≤1%（典型值，根据设备配置及LCD显示特性而定）。

4．系统特点

l 多工件检测：在同一系统中，可以定制一定尺寸以下的多种型号LCM的检测流程，实现多工件检测，包括各种透射半透正负性LCD、LCM等产品；

l 检测精度高、幅面大，在精度为0.1mm时其最大检测幅面可达到270mm×110mm，完全可以满足各种LCD/LCM尺寸的要求。可同时检测多片液晶，提高检测效率。

l 与驱动平台通信自动翻屏，实现多屏自动连续检测；

l 对缺划、多划、暗划、针孔；对比度测量等进行精确检测；

l 系统自带高性能电测机，可同时完成各种电测功能，并实现目测与电测的通信，系统控制翻屏，实现多屏自动连续检测。

5．典型缺陷图像

   本系统检测的一些典型缺陷图像如下：

                针孔                          暗划                            缺划

6．系统应用

本设备可安装在LCD/LCM 质检车间或LCD/LCM 生产线上，具有检测精度高，不疲劳、检测性能稳定的特点，在保证功能缺陷不漏检的情况下，此设备的效率是QC的2倍左右，这样，若贵司的车载产品全部采用此设备来完成检测即可减少50％的QC人员，同时经过设备检测后出货质量有保证，可减少80％的客户投诉，并相应减少80％的处理客户投诉所投入的人工和经费。

另一方面，由于现在的高端客户质量要求越来越高，一些高端的客户均提出了出货必须用设备检测的要求。因此，采用此设备后，也同时可以通过此设备而赢得更多的高端优质客户、优质订单，大大增加产品的附加值。

系统操作界面图：